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水稻表型檢測系統(tǒng)

產品簡介

水稻表型檢測系統(tǒng)可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。

產品型號：KM-SDY

更新時間：2024-10-14

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產品分類

小麥面粉大米檢測化驗儀器

圓型驗粉篩小麥檢測儀面筋測定儀降落數值儀面團拉伸儀電動篩選器谷物分析儀磁性分離板

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品牌	科銘光電	價格區(qū)間	面議
儀器種類	便攜式	產地類別	國產
應用領域	食品,農業(yè),綜合

水稻育種研究中，水稻表型參數至關重要，水稻表型檢測儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。這些表型參數在水稻品種篩選、水稻產量預測、稻穗動態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發(fā)揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決水稻的表型參數測量問題。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。

水稻表型檢測系統(tǒng)技術參數

測量范圍和誤差：

1、水稻畝穗數測量誤差： ≤±5%

2、稻穗形態(tài)測量范圍： 5~20cm

3、水稻夾角測量范圍： 0-180°

4、作物莖粗： 0-5.2cm

誤差

穗長誤差： ±2%

夾角測量誤差： +5%

作物莖粗測量誤差： ±1mm

千粒重測量誤差： ±2%

株高測量范圍： 0.1-1.5m

水稻莖稈測量誤差：.....±5%

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水稻表型檢測系統(tǒng)可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。

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